產(chǎn)品名稱(chēng)：二手日立場(chǎng)發(fā)射電鏡
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2022-03-22
產(chǎn)品特點(diǎn)：二手日立場(chǎng)發(fā)射電鏡：貨供應(yīng)二手掃描電鏡,二手場(chǎng)發(fā)射電鏡,二手透射電鏡S-9300，S-9380，S-806C，H-7100，S-4700，S-4200，S-4160，S-3000N，S-2700，S-2400，TM-1000；臺(tái)式，桌面式Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope
產(chǎn)品詳細(xì)資料：
二手日立場(chǎng)發(fā)射電鏡：日立新推出的高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，1kv的分辨率提升到1.3nm，并在探測(cè)器設(shè)計(jì)上有新的突破，配置了Lower、Up-per和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測(cè)器，可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號(hào)，實(shí)現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀(guān)測(cè)；結(jié)合選配的STEM探測(cè)器，還可以實(shí)現(xiàn)明場(chǎng)像和暗場(chǎng)像的觀(guān)測(cè)；此外在半導(dǎo)體應(yīng)用中，還可以安裝EBIC探測(cè)器，采集感生電流圖像，極大豐富了信號(hào)的采集，對(duì)樣品的信息的收集達(dá)到了新的高度。
掃描電子顯微鏡儀器特點(diǎn)：
1. 新型物鏡采用的ExB設(shè)計(jì)。使用單檢測(cè)器和超級(jí)ExB可以分別收集和分離單純二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號(hào)。
2. 1KV低加速電壓,不使用減速功能,可保證有2.0nm的分辨率。
3. 兩種樣品臺(tái)可選：I型50mm x 50mm標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)或Ⅱ型110mm x 110mm大樣品臺(tái)。
4. 包括磁懸浮渦輪分子泵在內(nèi)的*進(jìn)的真空系統(tǒng)。
5. 光闌自清潔技術(shù),避免了光闌的污染。
二手日立場(chǎng)發(fā)射電鏡：儀器參數(shù):
二次電子分辨率: 1.4nm (1 kV，減速模式)
1.0nm (15kV)
電子光學(xué)：
電子槍: 冷場(chǎng)發(fā)射電子源
加速電壓: 0.5~30kV(0.1KV/步，可變)
放大倍率: x 20~ x 800,000
物鏡光闌: 4孔，真空外選擇和調(diào)校(內(nèi)置加熱器)
檢測(cè)器: 二次電子檢測(cè)器 (高位/低位)
背散射電子檢測(cè)器(可選)
EDX(可選)
透射電子檢測(cè)器(可選)
法拉第杯(可選)
陰極熒光檢測(cè)器(可選)
樣品臺(tái): l型:
X: 0~50mm Y: 0~50mm
Z:1.5~30mm T: -5~+70°R:360°
驅(qū)動(dòng):手動(dòng)(可選3軸驅(qū)動(dòng))
ll型:
X: 0 ~110 mm Y: 0 ~110mm
Z: 1.5 ~40 mm T: -5 ~+70°
R: 360°驅(qū)動(dòng):PC機(jī)控制5軸驅(qū)動(dòng)
圖像顯示:
操作/顯示: PC/AT 兼容,
操作系統(tǒng)： WindowsTM 2000
18.1" 平面顯示器
掃描模式: 標(biāo)準(zhǔn)，Split/dual mag./linescan, position
set, spot, AAF, SAA, oblique
畫(huà)面儲(chǔ)存: 640 x 480, 1,280 x 960,
2,560 x 1,920,5,120 x 3,840
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